EMCスキャナを用いた
最新イミュニティ/ESD対策のご紹介
本資料では、シリコンバレー発の最新EMCスキャニング機器「SmartScan」シリーズを活用した、静電気放電（ESD）や外来ノイズに対するイミュニティ試験（耐性評価）および不具合解析の最新手法を紹介します。特に、従来の「ガンテスト」では困難だった不具合箇所のピンポイント特定や、電流拡散経路の可視化が可能となるスキャン技術に焦点を当てています。
この資料でわかること
- EMCスキャナ「SmartScan」の技術概要
- ESDやRFイミュニティ試験の課題とその解決策
例：原因不明の誤動作やICの障害箇所をどう特定するか - ESD耐量マッピング／電流拡散経路の可視化／共振スキャン／自動化ガンテストについて
- TLP（Transmission Line Pulse）による安全かつ精密なESD測定
- 実際の測定事例（デジタルフォトフレーム／タブレット端末など）
- レイアウト改善や対策部品導入による静電気耐性向上事例
