EMCスキャナを用いた最新EMI対策のご紹介
本資料では、シリコンバレー発の最新EMCスキャニング機器「SmartScan」シリーズを活用した、次世代のEMI対策手法をご紹介します。電磁ノイズの可視化・分析における最新技術や、より精度の高いノイズ源特定・シミュレーション手法など、実践的かつ革新的な内容を多数収録。開発・評価・品質保証の現場でEMC対策にお悩みの方に必見の内容です。
この資料でわかること
- EMCスキャナ「SmartScan」の技術概要
- EMI（電磁妨害）近傍界スキャンによるノイズ評価手法
- ノイズ放射源の特定やシールド効果の解析方法
- 実測データを活用した高精度な遠方界シミュレーションの流れ
- 6軸ロボットを用いた大型機器へのスキャン適用例
- プローブの種類と選定方法（最大40GHz対応）
- 大手企業も活用する実測データのシミュレーション連携事例
※ 一般的に部品のモデルの問題でシミュレーションは
精度が悪い場合があるが実測を元にシミュレーションが可能
