もうノイズ対策で悩まない！
放射ノイズとESD問題を解決！
最新EMI/ESDのピンポイント対策事例



セミナー概要

本セミナーでは、GoogleやAppleでも採用されている最新型EMCスキャナ「API SmartScan」の活用法を通じて、現場で実践できるEMI／ESD対策のノウハウをご紹介します。

放射ノイズ源やESDエラーの特定を精度高く行う手法、近傍界測定データをもとにした遠方界ノイズの予測手法など、従来の対策とは一線を画すユニークな技術を、実際の活用事例とともにお伝えします。

最新型EMC測定機「API SmartScan」を用いたノイズ測定会に優先ご案内！
 
通常、40万円の測定サービスを、無料でご体験いただけます。

「ノイズの原因がわからず困っている…せっかくだし測定してもらおう」
そんな方はぜひご活用ください！

以下の課題を解決できるのでおすすめ！

・EMI／EMS／ESD（静電気放電）の影響でトラブルが発生している
・ノイズ対策がベテラン任せで、社内にノウハウが蓄積できていない
・保護素子や機器の耐性評価を、どう進めればいいか分からない
・ノイズ源の特定に時間がかかり、開発が遅れてしまう
・EMC試験所でしか測定できず、社内での事前対策ができない
・対策の効果が分からず、手当たり次第に部品交換している
・EMC測定の効率を上げたいが、既存設備では限界を感じている

セミナー講師

Quadcept株式会社
デバイスエンジニアリング事業部
吉野太彬

Quadcept株式会社に入社後、最新型EMC測定器「API SmartScan」の市場導入および拡販に携わる。これまでに「JEITA（電子情報技術産業協会）」「EMCJ（EMCジャパン）」「EMC学会」など、業界を代表する技術イベント・学術会議で登壇し、幅広く情報発信を行っている。

詳細

セミナー名 もうノイズ対策で悩まない！
最新型EMC測定器によるノイズ源特定と対策の実践
講師 Quadcept株式会社
デバイスエンジニアリング事業部
吉野太彬
参加費 無料
定員 50名
開催形式 Zoomを利用したオンラインセミナー
※後日、お申込者様にのみご参加URLを記載した案内メールをお送りいたします
開催時間
  • 2025年8月6日 (水) 午後1:30～2:30
  • 2025年8月28日 (木) 午後1:30～2:30
※開始10分前に開場します
内容
  • 放射ノイズ源やESDエラー箇所の特定方法 
  • 近傍界プローブの活用事例
  • SmartScanの「エミッションスキャン」技術
  • SmartScanの「イミュニティスキャン」技術
  • 実測データに基づくシミュレーション方法
  • デジタルフォトフレームの静電気不具合解析事例
ご準備物
  • インターネット環境
  • パソコン
  • マウス
  • マイク
  • スピーカー
  • Webカメラ（推奨）
注意事項
  • 開催前に申し込み者が少ない場合は開催を見送ることがあります。
  • 競合他社様のご参加はご遠慮いただいておりますので、ご了承ください。
  • セミナーの録音・録画・スクリーンショット等は、ご遠慮いただいております。
  • セミナー終了後、アンケートのご協力をお願いいたします。
  • 最後までご視聴頂いた方に、無料サービス特典をご用意しております。
運営 Quadcept株式会社 セミナー事務局
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